数字IC验证工程师，在项目中如何有效地编写‘覆盖率驱动’的测试用例，而不仅仅是随机测试？
学习UVM时，知道覆盖率驱动验证（CDV）是高级方法。但在实际项目中，我发现很多时候测试用例的编写还是有点盲目，随机约束虽然能产生大量测试，但感觉效率不高，有些边界情况总是覆盖不到。想请教有经验的验证工程师，你们是如何规划和分析功能覆盖点的？如何根据设计规格（Spec）和可能存在的漏洞，有针对性地编写定向测试序列或调整随机约束权重？有没有一些实用的技巧或工具（比如覆盖率分析报告的重点查看部分）可以分享，让验证工作更系统、更高效？
嵌入式入门生小陈
