芯片测试工程师，在量产测试（CP/FT）中，如何分析和定位‘测试良率偏低’的问题？是设计问题、工艺问题还是测试程序问题？

1个月前

刚入职芯片测试岗位，遇到芯片量产测试良率不达标的情况。面对海量的测试数据（Shmoo图、Bin分布），感觉无从下手。请问一套系统的分析思路是怎样的？如何初步判断是芯片设计缺陷（比如某个电路 corner 没过）、晶圆厂工艺波动，还是我们测试机台、测试程序（比如时序、电压设置）的问题？有哪些关键数据需要重点关注？

电子爱好者小李

这家伙真懒，几个字都不愿写！

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