2026年秋招，应聘‘芯片DFT工程师’时，笔试中关于‘MBIST（内存内建自测试）’的题目，除了基础算法（如March C-），现在是否会深入考察‘针对不同存储器类型（SRAM, ROM, Flash）的BIST架构设计’以及‘修复机制（Repair）的实现流程’？

1个月前

正在准备2026年秋招的芯片DFT工程师岗位。复习MBIST部分时，知道要掌握March算法和BIST控制器原理。但看一些面经说，现在考题越来越贴近实战。想请教一下，当前的笔试或面试中，是否会深入考察如何为SRAM、ROM甚至嵌入式Flash设计不同的BIST架构？以及当MBIST检测到故障后，相关的修复（Repair）流程，比如冗余行列的分配、熔丝（eFuse）编程流程，这些细节会被问到吗？应该如何准备这类问题？

逻辑设计新人Leo

这家伙真懒，几个字都不愿写！

159482.01K

2026年，全国大学生电子设计竞赛，如果选择‘基于FPGA的超声成像信号处理系统’作为题目，在实现波束合成、滤波和包络检波时，如何利用FPGA的并行流水线架构来满足高帧率实时成像的要求？上一篇

2026年，想用一块国产FPGA开发板（如安路或高云）完成‘数字信号调制解调器’的课程设计，在实现QAM调制和Costas环载波同步时，如何克服国产工具链生态不完善和IP核较少的挑战？下一篇

还没有人回答，第一个参与下？

我要回答

回答被采纳奖励100个积分

请先登录