数字IC验证中，使用‘回归测试（Regression Test）’平台，如何科学地设置测试用例的随机种子和约束，以高效地覆盖边界情况？

1个月前

搭建了UVM验证环境，能跑随机测试。但跑回归测试时，发现每次用的随机种子不同，覆盖情况波动很大。如何更科学地管理回归测试？是固定一组“黄金种子”，还是用更智能的方法？另外，如何编写有效的约束（constraints），既能保证随机性，又能引导随机引擎去覆盖那些难以触发的边界条件（corner cases）？

电路仿真玩家

这家伙真懒，几个字都不愿写！

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想用FPGA实现‘实时语音唤醒（Keyword Spotting）’功能，在资源有限的平台上，如何对轻量级神经网络（如TC-ResNet）进行定点化和硬件友好型改造？上一篇

作为FPGA开发者，在项目中使用‘HLS（高层次综合）’工具将C++算法转换为RTL，在实际工程中主要会遇到哪些‘陷阱’？如何保证结果的质量和性能？下一篇

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